Законодательная база Российской Федерации

ПОСТАНОВЛЕНИЕ Минтруда РФ от 21.01.2000 N 5 "ОБ УТВЕРЖДЕНИИ ЕДИНОГО ТАРИФНО - КВАЛИФИКАЦИОННОГО СПРАВОЧНИКА РАБОТ И ПРОФЕССИЙ РАБОЧИХ, ВЫПУСК 20, РАЗДЕЛЫ: "ОБЩИЕ ПРОФЕССИИ ПРОИЗВОДСТВА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ", "ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ ПРОИЗВОДСТВО", "ПРОИЗВОДСТВО РАДИОДЕТАЛЕЙ", "ЭЛЕКТРОВАКУУМНОЕ ПРОИЗВОДСТВО", "ПЬЕЗОТЕХНИЧЕСКОЕ ПРОИЗВОДСТВО"

3-й разряд

Характеристика работ. Измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и Других электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на контрольно - измерительных приборах. Определение электрических параметров по нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам. Измерение емкостных, обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов. Определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим методами. Определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик и сопротивлений МДП и ЦЦП - структур, измерение интенсивности электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов. Измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей. Испытание электрической прочности и сопротивления изоляции. Проверка отсортированных селеновых элементов на контрольно - проверочном стенде и купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте. Пооперационный контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и величину сопротивления. Проверка микромодулей по картам сопротивлений и напряжений. Подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов. Травление и декапирование образцов в кислотах и травителях. Настройка приборов на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров. Определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной проницаемости. Элементарные расчеты по формулам.

Должен звать: устройство, назначение и условия применения контрольно - измерительных приборов; методику измерения электрических, электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники; свойства кислот и травителей; правила травления, декапирования и промывки; методы измерения толщины и типов проводимости; принципиальные схемы проверки вольт - амперных характеристик и пробивных напряжений; степень точности, пределы измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов; основные теоретические положения электро- и радиотехники.

Примеры работ

1. Выпрямители селеновые из элементов серий "А", "Г", "Я", "Ф" всех размеров - измерение электропараметров.

2. Двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при увеличении в 25 - 50 раз.

3. Изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических параметров.

4. Конденсаторы - измерение электрических параметров.

5. Кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные - измерение электрических и электромагнитных параметров.

6. Микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками, длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех.

7. Многослойные печатные платы - разметка топологии, замеры переходного сопротивления в отверстиях.

8. Пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои - определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного кристаллографического направления оптическим методом.

9. Пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции - проверка статических параметров.

10. Пластины полупроводниковые - определение толщины эпитаксиальных структур методом шарового шлифа.

11. Платы электронных часов - проверка тока потребления, генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора.

12. Резисторы - измерение и подгонка сопротивлений; измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового производства с точностью до +/- 5%.

13. Секции металлобумажные, пленочные - измерение электрических параметров.

14. Секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на специальной установке.

15. Селеновые элементы серий "А", "Я", "Ф", "Г" всех размеров - измерение всех электропараметров.

16. Слои диэлектрические, поликристаллические, эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия.

17. Стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости поляризации в заданном диапазоне.

18. Схемы интегральные - измерение электрофизических параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС Ш степени интеграции.

19. Трансформаторы и дроссели - измерение электрических параметров.

20. Ферриты кольцевые марганец - цинковые - измерение емкости, тангенса угла диэлектрических потерь.